Demonstration of atomic resolution Z-contrast imaging by a JEOL JEM-2010F scanning transmission electron microscope

• E.M. James

• N.D. Browning

• A.W. Nicolls

収録刊行物

• Journal of electron microscopy

  Journal of electron microscopy 47 (6), 561-574, 1998-12

  Oxford : Published for the Japanese Society of Electron Microscopy by Oxford University Press

詳細情報

• CRID: 1521417755284118016
• NII論文ID: 10008813833
• NII書誌ID: AA00697060
• ISSN: 00220744
• NDL書誌ID: 4670857
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I4670857
• 本文言語コード: en
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles