Preface to HAFN special issue
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収録刊行物
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- Journal of electron microscopy
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Journal of electron microscopy 48 (6), 671-671, 1999-12-01
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1573950399424934912
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- NII論文ID
- 10008815794
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- NII書誌ID
- AA00697060
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- ISSN
- 00220744
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- 本文言語コード
- en
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- データソース種別
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- CiNii Articles