A way to higher resolution:spherical-aberration correction in a 200 kV transmission electron microscope

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タイトル別名
  • way to higher resolution spherical-aberration correction in a 200 kV transmission electron microscope

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収録刊行物

  • Journal of electron microscopy

    Journal of electron microscopy 48 (6), 821-826, 1999

    Oxford : Published for the Japanese Society of Electron Microscopy by Oxford University Press

被引用文献 (2)*注記

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参考文献 (18)*注記

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