A spherical-aberration-corrected 200kV transmission electron microscope
収録刊行物
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- Ultramicroscopy
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Ultramicroscopy 75 53-60, 1998
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詳細情報
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- CRID
- 1573387449471830016
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- NII論文ID
- 10008816198
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- データソース種別
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- CiNii Articles