High precision phase-shifting electron holography

• Kazuo Yamamoto

• Ikuo Kawajiri

• Takayoshi Tanji

書誌事項

タイトル別名

• High precision phase shifting electron holography
• HAFN Special Issue
• HAFN Special Issue

収録刊行物

• Journal of electron microscopy

  Journal of electron microscopy 49 (1), 31-39, 2000

  Oxford : Published for the Japanese Society of Electron Microscopy by Oxford University Press

キーワード

• highly precise phase measurement technique
• Fresnel correction
• weak electric fields
• weak magnetic fields

詳細情報

• CRID: 1522262178372685952
• NII論文ID: 10008817006
• NII書誌ID: AA00697060
• ISSN: 00220744
• NDL書誌ID: 5315659
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I5315659
• 本文言語コード: en
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles