局所方位解析技術を活かした材料組織制御の新展開　　ＥＢＳＰ法の基本原理と最近のナノビーム化の利点

• 鈴木 清一

  テクセムラボラトリーズ・インク

書誌事項

タイトル別名

• Introduction to EBSP Method and its Advantages with Nano Probe Shottky FE-SEM
• EBSPホウ ノ キホン ゲンリ ト サイキン ノ ナノビームカ ノ リテン

収録刊行物

• まてりあ

  まてりあ 40 (7), 612-616, 2001

  公益社団法人 日本金属学会

キーワード

• electron backscatter diffraction pattern
• electron channeling pattern
• field emission-scanning electron microscopy
• texture analysis

詳細情報

• CRID: 1390282679032373248
• NII論文ID: 10008846352
• NII書誌ID: AN10433227
• DOI: 10.2320/materia.40.612
• COI: 1:CAS:528:DC%2BD3MXlslymsr4%3D
• ISSN: 18845843
• ISSN: 13402625
• ISSN: http://id.crossref.org/issn/13402625
• NDL書誌ID: 5852868
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I5852868
• Web Site: https://www.jstage.jst.go.jp/article/materia1994/40/7/40_7_612/_pdf
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • NDL
  • Crossref
  • CiNii Articles