EM-EDS 法による化合物半導体レーザの組成定量評価  [in Japanese] Quantitative X-ray Spectroscopy of Compound Semiconductor LASER  [in Japanese]

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Author(s)

    • 岡野 哲之 OKANO Tetsuyuki
    • 株式会社松下テクノリサーチ半導体解析チーム Characterization Technology Team, Matsushita Technoreseach, Inc.
    • 荒井 美奈 ARAI Mina
    • 株式会社松下テクノリサーチ半導体解析チーム Characterization Technology Team, Matsushita Technoreseach, Inc.
    • 神前 隆 KOUZAKI Takashi
    • 株式会社松下テクノリサーチ半導体解析チーム Characterization Technology Team, Matsushita Technoreseach, Inc.

Journal

  • Materia Japan

    Materia Japan 40(12), 1005, 2001-12-20

    The Japan Institute of Metals and Materials

References:  2

  • <no title>

    梅村馨

    電子顕微鏡学会第55回学術講演会発表要旨集 82, 1999

    Cited by (1)

  • <no title>

    岡野哲之

    電子顕微鏡学会第56回学術講演会発表要旨集 185, 2000

    Cited by (1)

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    10008847798
  • NII NACSIS-CAT ID (NCID)
    AN10433227
  • Text Lang
    JPN
  • Article Type
    REV
  • ISSN
    13402625
  • Data Source
    CJP  J-STAGE 
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