総合報告 光電子回折による半導体表面構造解析

• 河野 省三

Bibliographic Information

Other Title

• ソウゴウ ホウコク ヒカリデンシ カイセツ ニ ヨル ハンドウタイ ヒョウメン コウゾウ カイセキ

Journal

• 応用物理

  応用物理 69 (10), 1157-1166, 2000-10

  東京 : 応用物理学会

Keywords

• photoelectron
• diffraction
• X-ray photoelectron diffraction
• Auger electron diffraction
• semiconductor surfaces
• silicon surfaces
• surfactant mediated epitaxial growth
• negative electron affinity surfaces

Details

• CRID: 1520572358314078080
• NII Article ID: 10008978999
• NII Book ID: AN00026679
• ISSN: 03698009
• NDL BIB ID: 5496960
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I5496960
• Text Lang: ja
• NDL Source Classification:
  • ZM17(科学技術--科学技術一般--力学・応用力学)
• Data Source:
  • NDL
  • CiNii Articles