X線回折による有機超薄膜の構造評価

• 表 和彦

  理学電機(株)X線研究所

書誌事項

タイトル別名

• Structure analysis for organic thin films by grazing incidence x-ray diffraction.

収録刊行物

• 應用物理

  應用物理 69 (12), 1441-1442, 2000-12-10

詳細情報

• CRID: 1571135649644907264
• NII論文ID: 10008979964
• NII書誌ID: AN00026679
• ISSN: 03698009
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • CiNii Articles