走査型トンネル顕微鏡による水素化アモルファスシリコン表面の原子像観察
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収録刊行物
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- 精密工学会大会学術講演会講演論文集
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精密工学会大会学術講演会講演論文集 2002 (2), 147-, 2002-10-01
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1571417124694320512
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- NII論文ID
- 10009984125
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- NII書誌ID
- AN1018673X
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- CiNii Articles