各種顕微鏡法による先端材料評価最前線　１　　非接触原子間力顕微鏡による静電気力観察

• 森田 清三

  大阪大学大学院工学研究科電子工学

• 岡本 憲二

  大阪大学低温センター

• 菅原 康弘

  大阪大学大学院工学研究科応用物理学

書誌事項

タイトル別名

• Electrostatic Force Imaging Combined with Noncontact Atomic Force Microscope

収録刊行物

• まてりあ

  まてりあ 41 (12), 840-841, 2002

  公益社団法人 日本金属学会

キーワード

• electrostatic force
• noncontact atomic force microscope
• Kelvin probe force microscope
• contact potential difference
• atomic resolution

詳細情報

• CRID: 1390282679032225280
• NII論文ID: 10010600283
• NII書誌ID: AN10433227
• DOI: 10.2320/materia.41.840
• ISSN: 18845843
• ISSN: 13402625
• Web Site: https://www.jstage.jst.go.jp/article/materia1994/41/12/41_12_840/_pdf
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • Crossref
  • CiNii Articles