無電解Ni-P/置換Au処理基板へのSn-8.8 mass%ZnおよびSn-8.0 mass%Zn-3.0 mass%BiはんだのBGA接合性

DOI Web Site Web Site 被引用文献2件 参考文献11件
  • 杉崎 敬
    メルテックス株式会社研究部 東京都立大学大学院工学研究科応用化学専攻
  • 中尾 英弘
    メルテックス株式会社研究部
  • 木村 隆
    物質・材料研究機構分析ステーション
  • 渡辺 徹
    東京都立大学大学院工学研究科応用化学専攻

書誌事項

タイトル別名
  • BGA Jointing Property of Sn-8.8 mass%Zn and Sn-8.0 mass%Zn-3.0 mass%Bi Solder on Electroless Nickel-Phosphorus/Immersion Gold Plated Substrates
  • ムデンカイ Ni P チカン Au ショリ キバン エ ノ Sn 8 8 massパーセントZn オヨビ Sn 8 0 massパーセントZn 3 0 massパーセントBi ハンダ ノ BGA セツゴウセイ

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抄録

The BGA joint properties including the joint strength and the interfacial structure have been investigated in detail between the lead-free solders containing Sn-8.8Zn and Sn-8.0Zn-3.0Bi with low melting temperature and the replacement gold plated film on the electroless nickel-phosphorus deposits. The results indicate that both Sn-8.8Zn and Sn-8.0Zn-3.0Bi solders can be readily jointed with the substrate in the same way as the conventional Sn-37Pb solder at the peak temperature of 230°C. The joint strength of Sn-8.8Zn solder is higher than that of Sn-8.0Zn-3.0Bi solder, and both of them are higher than that of Sn-37Pb under same surface finishing. Moreover, γ2(AuZn3) intermetallic compound occurs as the reaction layer at Sn-8.8Zn and Sn-8.0Zn-3.0Bi joints, and the bismuth crystals occur at Sn-8.0Zn-3.0Bi joint. The hot bump pull testing results clearly show that the fracture of solder ball occurs along the reaction layer of γ2(AuZn3) intermetallic compound since this reaction layer or bismuth crystals in the joint causes the decrease of jointing strength.

収録刊行物

  • 日本金属学会誌

    日本金属学会誌 67 (5), 232-238, 2003

    公益社団法人 日本金属学会

被引用文献 (2)*注記

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参考文献 (11)*注記

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