点接触電流イメージング原子間力顕微鏡の開発｀†´

DOI Web Site Web Site 参考文献30件
  • 大塚 洋一
    大阪大学産業科学研究所
  • 内藤 泰久
    大阪大学産業科学研究所
  • 寺脇 歩
    大阪大学産業科学研究所
  • 松本 卓也
    大阪大学産業科学研究所 科学技術振興事業団，戦略的創造研究推進事業 (JST, CREST)
  • 川合 知二
    大阪大学産業科学研究所 科学技術振興事業団，戦略的創造研究推進事業 (JST, CREST)

書誌事項

タイトル別名
  • Development of the Point-contact Current-imaging Atomic Force Microscopy
  • 点接触電流イメージング原子間力顕微鏡の開発
  • テン セッショク デンリュウ イメージング ゲンシカンリョク ケンビキョウ ノ カイハツ

この論文をさがす

抄録

A new method for simultaneous measurement of topographic images and current-voltage (I-V) characteristics, based on atomic force microscopy (AFM), has been demonstrated with nano-scale resolution. Point-contact current-imaging atomic force microscopy (PCI-AFM) was developed to solve the incompatibility of electrically stable contact with nano-scale resolution in conductive probe AFM. We herein describe the detail of the PCI-AFM apparatus. Furthermore, the apparatus has been evaluated by the measurement of I-V characteristics of single-walled carbon nanotubes and deoxyribonucleic acid indicating high performance of PCI-AFM.

収録刊行物

  • 表面科学

    表面科学 24 (9), 573-577, 2003

    公益社団法人 日本表面科学会

参考文献 (30)*注記

もっと見る

キーワード

詳細情報 詳細情報について

問題の指摘

ページトップへ