書誌事項
- タイトル別名
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- Estimation of Unpleasant and Pleasant States by Nasal Thermogram
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抄録
We studied the method for objectively evaluating emotion through FST (Facial Skin Thermogram), which brings less stress and non-contact measurement. We tried to estimate unpleasant and pleasant states on FST with Neural Network. Subjective VAS was precisely estimated at any estimation accuracy.
収録刊行物
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- 電気学会論文誌C(電子・情報・システム部門誌)
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電気学会論文誌C(電子・情報・システム部門誌) 124 (1), 213-214, 2004
一般社団法人 電気学会
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001204603808256
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- NII論文ID
- 10011820276
- 30011601891
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- NII書誌ID
- AN10065950
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- ISSN
- 13488155
- 03854221
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- Crossref
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可