波長依存性を考慮した二次元複屈折計測 Two-Dimensional Birefringence Measurement with Wavelength Dependence

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著者

    • 若山 俊隆 WAKAYAMA Toshitaka
    • 東京農工大学工学部機械システム工学科 Department of Mechanical System Engineering, Faculty of Technology, Tokyo University of Agriculture and Technology
    • 大谷 幸利 [他] OTANI Yukitoshi
    • 東京農工大学工学部機械システム工学科 Department of Mechanical System Engineering, Faculty of Technology, Tokyo University of Agriculture and Technology
    • 梅田 倫弘 UMEDA Norihiro
    • 東京農工大学工学部機械システム工学科 Department of Mechanical System Engineering, Faculty of Technology, Tokyo University of Agriculture and Technology
    • 吉澤 徹 YOSHIZAWA Toru
    • 東京農工大学工学部機械システム工学科 Department of Mechanical System Engineering, Faculty of Technology, Tokyo University of Agriculture and Technology

収録刊行物

  • 光学

    光学 31(11), 826-831, 2002-11-10

    応用物理学会分科会日本光学会

参考文献:  10件中 1-10件 を表示

被引用文献:  1件中 1-1件 を表示

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10012335038
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00080324
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    03896625
  • NDL 記事登録ID
    6355916
  • NDL 雑誌分類
    ZM35(科学技術--物理学)
  • NDL 請求記号
    Z15-269
  • データ提供元
    CJP書誌  CJP引用  NDL 
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