Delay Fault Testing for CMOS Iterative Logic Arrays with a Constant Number of Patterns

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著者

    • LU Shyue-Kung
    • Department of Electronic Engineering, Fu-Jen Catholic University

収録刊行物

  • IEICE transactions on information and systems

    IEICE transactions on information and systems 86(12), 2659-2665, 2003-12-01

参考文献:  27件中 1-27件 を表示

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10012560168
  • NII書誌ID(NCID)
    AA10826272
  • 本文言語コード
    ENG
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    09168532
  • データ提供元
    CJP書誌 
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