被覆超硬合金における硬質層残留応力深さ方向分布の測定に関する研究 Measurement of Depth Profile of Residual Stress in the Hard Layer Coated on Cemented Carbide

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収録刊行物

  • セラミックス

    セラミックス 39(4), 311-315, 2004-04-01

    日本セラミックス協会

参考文献:  5件中 1-5件 を表示

  • <no title>

    理学電機分析センター編

    X線回折の手引き, 82-83, 1990

    被引用文献1件

  • 放射光による応力評価

    秋庭義明

    SPring-8講習会テキスト, 12-20, 2002

    被引用文献1件

  • <no title>

    土屋新

    日本材料学会第138回X線材料強度部門委員会研究討論会資料, 2002, 6-12, 2002

    被引用文献1件

  • <no title>

    秋田貢一

    第37回X線材料強度に関するシンポジウム講演論文集, 2001, 29-34, 2001

    被引用文献1件

  • <no title>

    TSUCHIYA S.

    SPring-8 User Experiment Report 11, 102, 2003

    被引用文献1件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10012703617
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00131516
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    0009031X
  • NDL 記事登録ID
    6909826
  • NDL 雑誌分類
    ZP9(科学技術--化学・化学工業--無機化学・無機化学工業--セラミックス・窯業)
  • NDL 請求記号
    Z17-206
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
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