分析電子顕微鏡 Analytical Electron Microscope

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  • ぶんせき

    ぶんせき (352), 207-210, 2004-04-05

    日本分析化学会

参考文献:  46件中 1-46件 を表示

  • <no title>

    及川哲夫

    ぶんせき 1999, 309

    被引用文献1件

  • <no title>

    橋本隆仁

    日本電子顕微鏡学会第56回学術講演会要旨集, 2000 32, 2000

    被引用文献1件

  • <no title>

    KAJI K.

    J. Electron Microsc. 50, 15, 2001

    被引用文献4件

  • <no title>

    鍛示和利

    第17回分析電子顕微鏡討論会予稿集, 2001 36, 2001

    被引用文献1件

  • <no title>

    常田るり子

    日本電子顕微鏡学会第57回学術講演会要旨集, 2001 40, 2001

    被引用文献1件

  • <no title>

    橋本隆仁

    日本顕微鏡学会関東支部会第27回講演会予稿集, 2003 21, 2003

    被引用文献1件

  • <no title>

    NAKAGAWA M.

    J. Electron Microsc. 50, 53, 2002

    被引用文献1件

  • <no title>

    中川美音

    LSIテスティングシンポジウム会議録, 2003 283, 2003

    被引用文献1件

  • <no title>

    朝山匡一郎

    日本電子顕微鏡学会第57回学術講演会予稿集, 2001 22, 2001

    被引用文献1件

  • <no title>

    朝山匡一郎

    日本電子顕微鏡学会第57回学術講演会予稿集, 2001 120, 2001

    被引用文献1件

  • <no title>

    KAMINO T.

    Proc. Microscopy and Microanalysis, 2000 510, 2000

    被引用文献1件

  • <no title>

    KAMINO T.

    Proc. Microscopy and Microanalysis, 2002 48, 2002

    被引用文献1件

  • <no title>

    上野武夫

    日本電子顕微鏡学会第58回学術講演会要旨集, 2002 16, 2002

    被引用文献1件

  • <no title>

    上野武夫

    日本金属学会ナノプレーテング研究会第5回例会予稿集, 2003 21, 2003

    被引用文献1件

  • <no title>

    上野武夫

    日本顕微鏡学会関東支部会第27回講演会予稿集, 2003 39, 2003

    被引用文献1件

  • <no title>

    TSUNETA R.

    J. Electron Microsc. 51, 167, 2001

    被引用文献1件

  • <no title>

    NATUSCH M. K. H.

    Micron 30, 173, 1998

    被引用文献1件

  • <no title>

    MENON E. S. K.

    Microsc. Microanal. 8, 403, 2002

    被引用文献1件

  • <no title>

    YAMADA K.

    J.Electron Microsc. 48, 9, 1999

    被引用文献2件

  • <no title>

    佐藤馨

    まてりあ 38, 706, 1999

    被引用文献1件

  • <no title>

    SAYAGUES M.

    Microsc. Microanal. 8, 403, 2002

    被引用文献1件

  • <no title>

    DISKO M. H.

    Microsc. Microanal. 7, 1090, 2001

    被引用文献1件

  • <no title>

    GALAUP S.

    J. Electron microsc. 48, 17, 1999

    被引用文献1件

  • <no title>

    KAJI K.

    Proc. Microscopy and Microanalysis, 2000 178, 2000

    被引用文献1件

  • <no title>

    KAJI K.

    Proc. Microscopy and Microanalysis, 2001 1134, 2001

    被引用文献1件

  • <no title>

    TANIGUCHI Y.

    Microsc. Microanal. 8, 590, 2002

    被引用文献1件

  • <no title>

    YAGUCHI T.

    Microsc., Microanal. 6, 218, 2000

    被引用文献2件

  • <no title>

    YAGUCHI T.

    Microsc., Microanal. 7, 287, 2001

    被引用文献2件

  • <no title>

    YAGUCHI T.

    Microsc. Microanal. 7, 938, 2001

    被引用文献1件

  • <no title>

    今野充

    日本電子顕微鏡学会第58回学術講演会発表要旨集, 2002 88, 2002

    被引用文献1件

  • <no title>

    矢口紀恵

    日本顕微鏡学会第59回学術講演会発表要旨集, 2003 106, 2003

    被引用文献1件

  • <no title>

    今野充

    日本顕微鏡学会第59回学術講演会発表要旨集, 2003 107, 2003

    被引用文献1件

  • <no title>

    GIANUZZI L. A.

    Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 480, 18, 1997

    被引用文献3件

  • <no title>

    GIANUZZI L. A.

    Micros. Res. Tech. 41, 283, 1998

    被引用文献3件

  • <no title>

    OHNISHI T.

    Proc. 25^<th> Int. Symp. For Testing and Failure Analysis, 1999 449, 1999

    被引用文献2件

  • <no title>

    UMEMURA K.

    J. Electron Microsc. 34, 510, 1999

    被引用文献1件

  • <no title>

    KAMINO T.

    Proc. Advances in focused ion beam microscopy, 2003 7, 2003

    被引用文献1件

  • <no title>

    今野充

    第17回分析電子顕微鏡討論会予稿集, 2001 83, 2001

    被引用文献1件

  • <no title>

    大西毅

    日本電子顕微鏡学会第58回学術講演会要旨集, 2002 94, 2002

    被引用文献1件

  • <no title>

    KAMINO T.

    Microsc. Microanal 8, 48, 2001

    被引用文献1件

  • <no title>

    YAGUCHI T.

    Proc. 29^<th> Int. Symp. For Testing and Failure Analysis, 2003 282, 2003

    被引用文献1件

  • <no title>

    JIA C. L.

    Science 299, 870, 2003

    被引用文献3件

  • <no title>

    NAKAFUJI A.

    J. Electron Microsc. 50, 23, 2001

    DOI 被引用文献1件

  • <no title>

    ZEHN Y.

    Ultramicroscopy 87, 135, 2001

    DOI 被引用文献1件

  • <no title>

    KAMINO T.

    Microsc. Microanal. 6, 510, 2001

    DOI 被引用文献1件

  • <no title>

    LENTZEN M.

    Ultramicrosc. 92, 233, 2002

    DOI 被引用文献4件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10012851907
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00222622
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    03862178
  • NDL 記事登録ID
    6920958
  • NDL 雑誌分類
    ZP4(科学技術--化学・化学工業--分析化学)
  • NDL 請求記号
    Z17-729
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
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