材料・デバイス系試料の電子線トモグラフィー Electron tomography of materials and semiconductor devises

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  • 顕微鏡

    顕微鏡 39(1), 26-30, 2004-03-31

    The Japanese Society of Microscopy

参考文献:  15件中 1-15件 を表示

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10012854550
  • NII書誌ID(NCID)
    AA11917781
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    13490958
  • NDL 記事登録ID
    6961198
  • NDL 雑誌分類
    ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • NDL 請求記号
    Z16-896
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL  J-STAGE 
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