STEM-EELSを用いた高精度分析 Advanced STEM-EELS analysis

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著者

収録刊行物

  • 顕微鏡

    顕微鏡 39(1), 65-67, 2004-03-31

    The Japanese Society of Microscopy

参考文献:  4件中 1-4件 を表示

  • <no title>

    SUENAGA K.

    Science 290, 2280, 2000

    被引用文献16件

  • <no title>

    BATSON P.

    Nature 418, 617, 2002

    被引用文献2件

  • <no title>

    IIJIMA S.

    Chem. Phys. Lett. 309, 165, 1999

    被引用文献15件

  • <no title>

    GLOTER A.

    Ultramicroscopy 96, 385, 2003

    DOI 被引用文献5件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10012854660
  • NII書誌ID(NCID)
    AA11917781
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    NOT
  • ISSN
    13490958
  • NDL 記事登録ID
    6961227
  • NDL 雑誌分類
    ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • NDL 請求記号
    Z16-896
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL  J-STAGE 
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