最近の研究と技術　　ＳＴＥＭ－ＥＥＬＳを用いた高精度分析

• 橋本 綾子

  産業技術総合研究所新炭素系材料開発研究センター

• Gloter Alexandre

• 末永 和知

  産業技術総合研究所新炭素系材料開発研究センター

• 飯島 澄男

  産業技術総合研究所新炭素系材料開発研究センター

書誌事項

タイトル別名

• Advanced STEM-EELS analysis
• STEM EELS オ モチイタ コウセイド ブンセキ

収録刊行物

• 顕微鏡

  顕微鏡 39 (1), 65-67, 2004

  公益社団法人 日本顕微鏡学会

キーワード

• 電子エネルギー損失分光法
• 走査型過程電子顕微鏡
• ナノカーボン材料

詳細情報

• CRID: 1390001205218437248
• NII論文ID: 10012854660
• NII書誌ID: AA11917781
• DOI: 10.11410/kenbikyo2004.39.65
• ISSN: 24342386
• ISSN: 13490958
• NDL書誌ID: 6961227
• Web Site: http://id.ndl.go.jp/bib/6961227
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I6961227
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • NDL
  • CiNii Articles