Electron holographic mapping of two-dimensional doping areas in cross-sectional device specimens prepared by the lift-out technique based on a focused ion beam

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収録刊行物

  • Journal of electron microscopy

    Journal of electron microscopy 53(2), 115-119, 2004-04-01

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被引用文献:  2件中 1-2件 を表示

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10012932510
  • NII書誌ID(NCID)
    AA00697060
  • 本文言語コード
    ENG
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    00220744
  • データ提供元
    CJP書誌  CJP引用 
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