Direct observation of a stacking fault in Si_<1-x>Ge_x semiconductors by spherical aberration-corrected TEM and conventional ADF-STEM

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著者

    • YAMASAKI Jun
    • Center for Integrated Research in Science and Engineering
    • TANAKA Nobuo
    • Center for Integrated Research in Science and Engineering

収録刊行物

  • Journal of electron microscopy

    Journal of electron microscopy 53(2), 129-135, 2004-04-01

参考文献:  19件中 1-19件 を表示

被引用文献:  1件中 1-1件 を表示

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10012932545
  • NII書誌ID(NCID)
    AA00697060
  • 本文言語コード
    ENG
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    00220744
  • データ提供元
    CJP書誌  CJP引用 
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