2枚の90°位相シフトした干渉縞を用いる位相干渉計 Phase-Shifting Interferometer Using Two Phase-Shifted Fringe Patterns in Quadrature

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著者

収録刊行物

  • 光学

    光学 33(7), 407-412, 2004-07-10

    応用物理学会分科会日本光学会

参考文献:  18件中 1-18件 を表示

被引用文献:  1件中 1-1件 を表示

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10013275468
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00080324
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    03896625
  • NDL 記事登録ID
    7026608
  • NDL 雑誌分類
    ZM35(科学技術--物理学)
  • NDL 請求記号
    Z15-269
  • データ提供元
    CJP書誌  CJP引用  NDL 
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