エピタキシャルYBCO膜中の単一欠陥近傍の電界集中 : 低温レーザ顕微鏡によるイメージングと解析解との定量的比較 Electric field distribution around a transverse defect in an epitaxial YBCO thin film

この論文をさがす

著者

    • 木須 隆暢 KISS T.
    • 九州大学超伝導システム科学研究センター Research Institute of Superconductor Science and Systems, Kyushu University
    • 安永 稔 YASUNAGA M.
    • 九州大学大学院システム情報科学研究院 Research Institute of Superconductor Science and Systems, Kyushu University
    • 徳富 英明 TOKUTOMI H.
    • 九州大学大学院システム情報科学研究院 Research Institute of Superconductor Science and Systems, Kyushu University
    • 井上 昌睦 INOUE M.
    • 九州大学大学院システム情報科学研究院 Dept of Electrical and Electronic Systems Engineering, Kyushu University
    • 竹尾 正勝 TAKEO M.
    • 九州大学大学院システム情報科学研究院 Dept of Electrical and Electronic Systems Engineering, Kyushu University

収録刊行物

  • 低温工学・超電導学会講演概要集 = Meetings of Cryogenics and Superconductivity

    低温工学・超電導学会講演概要集 = Meetings of Cryogenics and Superconductivity 69, 5, 2003-12-03

参考文献:  4件中 1-4件 を表示

  • <no title>

    KISS T.

    IEEE Trasn. Appl. Supercon. 13, 2607, 2003

    被引用文献2件

  • <no title>

    YAMAFUJI K.

    Physica C 258, 197, 1996

    被引用文献10件

  • <no title>

    木須

    第67回2002年度秋季低温工学 超伝導学会 138, 2002

    被引用文献2件

  • <no title>

    FRIESEN M.

    Physical Review B 63, 064521, 2001

    被引用文献1件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10013400862
  • NII書誌ID(NCID)
    AA1195143X
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    SHO
  • ISSN
    09195998
  • データ提供元
    CJP書誌 
ページトップへ