エピタキシャルYBCO膜中の単一欠陥近傍の電界集中 : 低温レーザ顕微鏡によるイメージングと解析解との定量的比較
書誌事項
- タイトル別名
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- Electric field distribution around a transverse defect in an epitaxial YBCO thin film
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収録刊行物
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- 低温工学・超電導学会講演概要集 = Meetings of Cryogenics and Superconductivity
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低温工学・超電導学会講演概要集 = Meetings of Cryogenics and Superconductivity 69 5-, 2003-12-03
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1570009750153370368
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- NII論文ID
- 10013400862
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- NII書誌ID
- AA1195143X
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- ISSN
- 09195998
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- CiNii Articles