液晶科学実験講座第7回 : 液晶のX線回折測定 : 広角X線回折装置を用いた液晶相の測定 X-Ray Diffraction Measurements of Liquid Crystals

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収録刊行物

  • 液晶 : 日本液晶学会誌 = Ekisho

    液晶 : 日本液晶学会誌 = Ekisho 7(3), 259-267, 2003-07-25

    日本液晶学会事務局

参考文献:  3件中 1-3件 を表示

  • <no title>

    日本液晶学会編集委員会

    液晶 6(1), 51-83, 2002

    被引用文献1件

  • <no title>

    液晶便覧編集委員会編

    液晶便覧, 161-173, 2000

    被引用文献1件

  • <no title>

    HAHN T.

    International Tables for Crystallography, 1983

    被引用文献1件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10013418246
  • NII書誌ID(NCID)
    AA11404426
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • NDL 記事登録ID
    6653902
  • NDL 雑誌分類
    ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • NDL 請求記号
    Z74-B666
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
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