TLOの将来と技術評価のあり方 TLOs in Future and Importance of Their Technology Evaluation

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著者

    • 橋詰 匠 HASHIZUME Takumi
    • 早稲田大学理工学総合研究センター Advanced Research Institute for Science and Engineering, Waseda University
    • 野尻 昭夫 NOJIRI Akio
    • 早稲田大学理工学総合研究センター Advanced Research Institute for Science and Engineering, Waseda University

収録刊行物

  • 計測と制御 = Journal of the Society of Instrument and Control Engineers

    計測と制御 = Journal of the Society of Instrument and Control Engineers 43(10), 773-778, 2004-10-10

    公益社団法人 計測自動制御学会

参考文献:  5件中 1-5件 を表示

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10013651539
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00072406
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    04534662
  • NDL 記事登録ID
    7120321
  • NDL 雑誌分類
    ZM11(科学技術--科学技術一般--制御工学) // ZM15(科学技術--科学技術一般--測定・測定器)
  • NDL 請求記号
    Z14-106
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL  J-STAGE 
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