ウァイブレーティングリード法によるY123薄膜の磁束ピン止め測定

書誌事項

タイトル別名
  • Flux pinning measurements in YBCO thin films by vibrating reed method

この論文をさがす

収録刊行物

参考文献 (1)*注記

もっと見る

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1571698600020590592
  • NII論文ID
    10013805333
  • NII書誌ID
    AA1195143X
  • ISSN
    09195998
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • CiNii Articles

問題の指摘

ページトップへ