CMOSマイクロコンピュータ回路の電源電流によるブリッジ故障検出法  [in Japanese] A Supply Current Test Method for Bridging Faults in CMOS Microprocessor Based Circuits  [in Japanese]

Search this Article

Author(s)

Abstract

CMOSマイクロプロセッサを用いてプリント配線板上に実現したマイクロコンピュータに発生するブリッジ故障を検査プログラム実行時の電源電流測定により検出する検査法を,本論文では提案している。その検査法を商用のボイラ制御用マイクロコンピュータ回路の検査に適用し,使用ICの隣合う2本のピン間の単一ブリッジ故障の98.7%を検査時間326msecで検出できることを実験で明らかにしている。また,本検査法での検査時に実行させる検査プログラムの開発支援ツールがマイクロプロセッサのデータシート内で公開されているタイミングチャートを利用して開発できることも明らかにしている。

A new supply current test method is proposed for bridging faults in CMOS microprocessor based circuits which are implemented on printed circuit boards with discrete ICs. The method is based on supply current of a circuit under test, which flows when a test program is executed. A commercial microcomputer circuit is tested by the proposed method. In the tests, 98.7% of the bridging faults between two neighboring pins in the circuit are detected within 326 msec. It promises us that the method can be used in production tests of microprocessor based circuits. Also, it is shown that the test program can be developed by means of timing charts in data sheets of the microprocessor.

Journal

  • Journal of Japan Institute of Electronics Packaging

    Journal of Japan Institute of Electronics Packaging 6(7), 564-572, 2003-11-01

    Japan Institute of Electronics Packaging

References:  16

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    10013959093
  • NII NACSIS-CAT ID (NCID)
    AA11231565
  • Text Lang
    JPN
  • Article Type
    ART
  • ISSN
    13439677
  • NDL Article ID
    6752406
  • NDL Source Classification
    ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • NDL Call No.
    Z74-B258
  • Data Source
    CJP  NDL  NII-ELS 
Page Top