CTを用いたリバースエンジニアリング

• 藤井 正司

書誌事項

タイトル別名

• CT オ モチイタ リバースエンジニアリング
• 特集 X線CTによるリバースエンジニアリング
• トクシュウ Xセン CT ニ ヨル リバースエンジニアリング

収録刊行物

• 非破壊検査 : Jjournal of the Japanese Society for Non-destructive Inspection / 日本非破壊検査協会 編

  非破壊検査 : Jjournal of the Japanese Society for Non-destructive Inspection / 日本非破壊検査協会 編 50 (11), 698-703, 2001-11

  [東京] : 日本非破壊検査協会

キーワード

• コンピュータ断層撮影
• マイクロCT
• 非破壊検査

詳細情報

• CRID: 1520853832928097664
• NII論文ID: 10007391876
• NII論文ID: 10014617860
• NII書誌ID: AN00208370
• ISSN: 03675866
• NDL書誌ID: 5970208
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I5970208
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZM16(科学技術--科学技術一般--工業材料・材料試験)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles