コヒーレンス・スペクトロトモグラフィ---低干渉光干渉計測法による多層膜中間層の分光吸収率の測定

• 南 浩治

• 菅 武志

• 井上 卓

書誌事項

タイトル別名

• コヒーレンス スペクトロ トモグラフィー テイ カンショウ ヒカリ カンショウ

収録刊行物

• 光学 = Japanese journal of optics : publication of the Optical Society of Japan

  光学 = Japanese journal of optics : publication of the Optical Society of Japan 25 (3), 156-160, 1996-03

  東京 : 日本光学会

詳細情報

• CRID: 1520009410250828800
• NII論文ID: 10016234421
• NII書誌ID: AN00080324
• ISSN: 03896625
• NDL書誌ID: 3934874
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I3934874
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZM35(科学技術--物理学)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles