Modification of Film Surface by AFM Probe Anodization

• OKADA T.

  Toyohashi Univ. Tech.

• MATSUO A.

  Toyohashi Univ. Tech.

• UCHIDA H.

  Toyohashi Univ. Tech.

• INOUE M.

  Toyohashi Univ. Tech.

Bibliographic Information

Other Title

• AFMプローブを用いた陽極酸化法による薄膜表面の加工

Journal

• 電気学会研究会資料. MAG, マグネティックス研究会

  電気学会研究会資料. MAG, マグネティックス研究会 2005 (124), 125-128, 2005-12-05

Keywords

• Atomic force microscope
• AFM
• nano-probe
• Si
• NiFe
• I-V curve

Details

• CRID: 1573105975114633600
• NII Article ID: 10016966954
• NII Book ID: AN00346760
• Text Lang: ja
• Data Source:
  • CiNii Articles