過剰キャリア減衰曲線に現れる遅い成分の温度依存性からのトラップパラメータの導出

• 市村 正也

  名古屋工業大学電気電子工学科

書誌事項

タイトル別名

• Estimation of trap parameters from a slow component of excess carrier decay curves

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告. ED, 電子デバイス

  電子情報通信学会技術研究報告. ED, 電子デバイス 106 (45), 101-106, 2006-05-11

キーワード

• キャリアライフタイム
• 過剰キャリア減衰曲線
• 温度依存性
• 少数キャリアトラップ

詳細情報

• CRID: 1571417125358483456
• NII論文ID: 10018154722
• NII書誌ID: AN10012954
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • CiNii Articles