過剰キャリア減衰曲線に現れる遅い成分の温度依存性からのトラップパラメータの導出

• 市村 正也

書誌事項

タイトル別名

• カジョウ キャリア ゲンスイ キョクセン ニ アラワレル オソイ セイブン ノ オンド イゾンセイ カラ ノ トラップパラメータ ノ ドウシュツ

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 106 (46), 101-106, 2006-05

  東京 : 電子情報通信学会

キーワード

• キャリアライフタイム
• 少数キャリアトラップ
• carrier lifetime
• carrier decay curve
• temperature dependence
• minority carrier trap

詳細情報

• CRID: 1520009407035785984
• NII論文ID: 110004744997
• NII論文ID: 10018155276
• NII論文ID: 110004741415
• NII論文ID: 110004737614
• NII書誌ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL書誌ID: 7939293
• NDL書誌ID: 7939447
• NDL書誌ID: 7938975
• Web Site: http://id.ndl.go.jp/bib/7939293
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I7939293
• Web Site: http://id.ndl.go.jp/bib/7939447
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I7939447
• Web Site: http://id.ndl.go.jp/bib/7938975
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I7938975
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles