45nm世代のLSTP SRAMへのNi FUIS電極適用によるしきい値ばらつき抑制効果

• 岡山 康則

• 齋藤 友博

• 大石 周

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Other Title

• 45nm セダイ ノ LSTP SRAM エ ノ Ni FUIS デンキョク テキヨウ ニ ヨル シキイチバラツキ ヨクセイ コウカ

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• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 106 (206), 115-120, 2006-08

  東京 : 電子情報通信学会

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• CRID: 1520290882288022272
• NII Article ID: 10018234159
• NII Article ID: 110004824041
• NII Article ID: 110004823923
• NII Book ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL BIB ID: 8047984
• NDL BIB ID: 8048338
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I8047984
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I8048338
• Text Lang: ja
• NDL Source Classification:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• Data Source:
  • NDL
  • CiNii Articles