特集にあたって

• 松村 晶

  九州大学大学院工学研究院

収録刊行物

• 顕微鏡

  顕微鏡 41 (3), 144-, 2006-11-30

キーワード

• ビーム照射効果
• 電子励起
• 弾き出し損傷
• 透過電子顕微鏡

詳細情報

• CRID: 1573105975183583104
• NII論文ID: 10018791178
• NII書誌ID: AA11917781
• ISSN: 13490958
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • CiNii Articles