免疫電顕におけるトラブルシューティング  [in Japanese] Immuno-electron microscopy problems and solutions  [in Japanese]

Author(s)

Journal

  • Microscopy

    Microscopy 42(1), 16-18, 2007-03-30

    日本顕微鏡学会

References:  21

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    10018912844
  • NII NACSIS-CAT ID (NCID)
    AA11917781
  • Text Lang
    JPN
  • Article Type
    REV
  • ISSN
    13490958
  • NDL Article ID
    8780833
  • NDL Source Classification
    ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • NDL Call No.
    Z16-896
  • Data Source
    CJP  NDL 
Page Top