走査電顕試料作製におけるトラブルシューティング

• 近藤 俊三

書誌事項

タイトル別名

• ソウサ デンケン シリョウ サクセイ ニ オケル トラブルシューティング
• SEM preparation problem: solving and troubleshooting
• 特集 電子顕微鏡試料作製におけるトラブルシューティング
• トクシュウ デンシ ケンビキョウ シリョウ サクセイ ニ オケル トラブルシューティング

収録刊行物

• 顕微鏡 = Microscopy / 「顕微鏡」編集委員会 編

  顕微鏡 = Microscopy / 「顕微鏡」編集委員会 編 42 (1), 19-22, 2007

  東京 : 日本顕微鏡学会

キーワード

• SEM
• 試料作製
• アーチファクト

詳細情報

• CRID: 1520853833417710976
• NII論文ID: 10018912866
• NII書誌ID: AA11917781
• ISSN: 13490958
• NDL書誌ID: 8780846
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I8780846
• Web Site: https://search.jamas.or.jp/link/ui/2007236395
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles