PT-IGBTとNPT-IGBTの短絡破壊メカニズムの考察-I : 準定常解析シミュレーションからの予想

• 高田 育紀

  三菱電機

書誌事項

タイトル別名

• Destruction Mechanism of PT-IGBT and NPT-IGBT in the Short Circuit Operation : an Estimation form the Quasi-Stationary Simulations

収録刊行物

• 電気学会研究会資料. EDD, 電子デバイス研究会

  電気学会研究会資料. EDD, 電子デバイス研究会 2001 (76), 29-33, 2001-10-26

キーワード

• IGBT
• 破壊耐量
• 短絡動作
• 準定常シミュレーション

詳細情報

• CRID: 1573387450179337600
• NII論文ID: 10018991666
• NII書誌ID: AN1044178X
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • CiNii Articles