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- 高田 昌樹
- 理化学研究所播磨研究所放射光科学総合研究センター (財)高輝度光科学研究センター/SPring-8 CREST/科学技術振興機構(JST)
書誌事項
- タイトル別名
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- Structural basis for the fast phase change of Ge<sub>2</sub>Sb<sub>2</sub>Te<sub>5</sub>, optical memory disk material
- 光ディスク材料Ge2Sb2Te5の高速相変化モデル
- ヒカリ ディスク ザイリョウ Ge2Sb2Te5 ノ コウソク ソウヘンカ モデル
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抄録
<p>DVDなどの光ディスクは音声・映像データの記録媒体として,現代の日常生活に欠くことのできない存在となっている.この情報記録方式は,物質がレーザー照射により,光反射率の異なる結晶相からアモルファス相へ,またその逆へ,ナノ秒という超高速で変化すること(相変化)を利用したものである.最近は,ブルーレイ・ディスクに代表されるように,さらに高密度・高速の記憶媒体の技術開発競争は激しく,先端材料開発の最前線の一つである.しかし,原子レベルでの相変化機構はいまだに明らかになっていない.最近,放射光という超強力X線を用いた構造解析により,相変化速度の速いGe2Sb2Te5 のアモルファス相の構造を解明し,結晶相と同じ正方形の原子配列秩序をもった偶数員環ユニットを保持しているという特徴をもっていることを発見した.その研究成果について紹介する.</p>
収録刊行物
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- 応用物理
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応用物理 77 (7), 827-830, 2008-07-10
公益社団法人 応用物理学会
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282752337340800
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- NII論文ID
- 10021109497
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- NII書誌ID
- AN00026679
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- ISSN
- 21882290
- 03698009
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- NDL書誌ID
- 9571303
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可