In situ analysis using high resolution synchrotron radiation photoemission spectroscopy for initial oxidation of H_2O pre-adsorbed Si(001) surfaces induced by supersonic O_2 molecular beams at room temperature

  • YOSHIGOE Akitaka
    Synchrotron Radiation Research Center, Japan Atomic Energy Research Institute
  • TERAOKA Yuden
    Synchrotron Radiation Research Center, Japan Atomic Energy Research Institute

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  • CRID
    1573387450387355520
  • NII論文ID
    10021992321
  • NII書誌ID
    AA11068271
  • 本文言語コード
    en
  • データソース種別
    • CiNii Articles

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