Fabrication and characterization of poly(3-hexylthiophene)-based field-effect transistors with silsesquioxane gate insulators

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  • CRID
    1573105975472638208
  • NII論文ID
    10022550084
  • NII書誌ID
    AA10777858
  • 本文言語コード
    en
  • データソース種別
    • CiNii Articles

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