高輝度電子源による STEM-EELS 分析

• 倉田 博基

  京都大学化学研究所

• 磯田 正二

  京都大学化学研究所

書誌事項

タイトル別名

• Detection of Jahn-Teller Distortion by Using Site-resolved ELNES

収録刊行物

• まてりあ

  まてりあ 48 (12), 602-602, 2009

  公益社団法人 日本金属学会

キーワード

• nanotip
• Cold-FEG
• HAADF
• STEM-EELS

詳細情報

• CRID: 1390001204054606976
• NII論文ID: 10026268052
• NII書誌ID: AN10433227
• DOI: 10.2320/materia.48.602
• ISSN: 18845843
• ISSN: 13402625
• Web Site: https://www.jstage.jst.go.jp/article/materia/48/12/48_602/_pdf
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • Crossref
  • CiNii Articles
  • KAKEN