Three-dimensional Visualization of Lattice Defects by Electron Tomography

• Hata Satoshi

  Faculty of Engineering Sciences, Kyushu University

• Mitsuhara Masatoshi

  Faculty of Engineering Sciences, Kyushu University

• Tanaka Masaki

  Faculty of Engineering, Kyushu University

• Miyazaki Hiroya

  Mel-Build

• Ikeda Ken-ichi

  Faculty of Engineering Sciences, Kyushu University

• Kaneko Kenji

  Faculty of Engineering, Kyushu University

• Nakashima Hideharu

  Faculty of Engineering Sciences, Kyushu University

• Higashida Kenji

  Faculty of Engineering, Kyushu University

• Matsumura Syo

  Faculty of Engineering, Kyushu University

Bibliographic Information

Other Title

• 電子線トモグラフィーによる格子欠陥の 3 次元可視化
• デンシセン トモグラフィー ニ ヨル コウシ ケッカン ノ 3ジゲン カシカ

Abstract

X線CT(computed tomography :　コンピューター断層撮影法)の原理を透過電子顕微鏡(TEM: transmission electron microscope)に応用した電子線トモグラフィーは、物質のナノ構造を3次元で観察・解析する方法として、また、人間の直感に訴える新しいナノ構造可視化技術として、様々な材料への応用が進んできている。電子線トモグラフィーについては本誌で既に解説がなされており、本稿ではその後の進展として、結晶内部の格子欠陥を3次元可視化する取り組みを紹介する。

Journal

• Materia Japan

  Materia Japan 49 (6), 274-279, 2010

  The Japan Institute of Metals and Materials

Keywords

• electron tomography
• lattice defect
• dislocation
• transmission electron microscopy (TEM)
• scanning transmission electron microscopy (STEM)
• three dimensions
• dual-axis tomography

Details

• CRID: 1390282679030840064
• NII Article ID: 10026403106
• NII Book ID: AN10433227
• DOI: 10.2320/materia.49.274
• COI: 1:CAS:528:DC%2BC3cXotlalsLk%3D
• ISSN: 18845843
• ISSN: 13402625
• ISSN: http://id.crossref.org/issn/13402625
• HANDLE: 2115/75570
• NDL BIB ID: 10727058
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I10727058
• Web Site: https://www.jstage.jst.go.jp/article/materia/49/6/49_274/_pdf
• Text Lang: ja
• Data Source:
  • JaLC
  • IRDB
  • NDL
  • Crossref
  • CiNii Articles
  • KAKEN