共鳴Ｘ線非弾性散乱の分析化学的応用

• 林 久史

  日本女子大学理学部物質生物科学科

書誌事項

タイトル別名

• Applications of Resonant Inelastic X-ray Scattering to Chemical-State Analysis
• キョウメイ Xセン ヒダンセイ サンラン ノ ブンセキ カガクテキ オウヨウ

抄録

元素の吸収端に近いエネルギーのX線を照射した時に観測される発光X線（共鳴X線非弾性散乱）スペクトルは，通常の蛍光X線スペクトルよりはるかに大きな化学効果を示すため，元素の化学状態分析に有用である．共鳴X線非弾性散乱について，X線吸収や蛍光X線との関連を含め，測定例をまじえて概観し，その分析化学的な応用について議論する．

収録刊行物

• 分析化学

  分析化学 59 (6), 425-435, 2010

  公益社団法人 日本分析化学会

キーワード

• resonant inelastic X-ray scatterings
• chemical-state analysis
• XAFS
• material characterization

詳細情報

• CRID: 1390001204354126592
• NII論文ID: 10026476210
• NII書誌ID: AN00222633
• DOI: 10.2116/bunsekikagaku.59.425
• COI: 1:CAS:528:DC%2BC3cXotVOgsb4%3D
• NDL書誌ID: 10734678
• ISSN: 05251931
• Web Site: http://id.ndl.go.jp/bib/10734678
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I10734678
• Web Site: http://www.jstage.jst.go.jp/article/bunsekikagaku/59/6/59_6_425/_pdf
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • NDL
  • Crossref
  • CiNii Articles
  • KAKEN
• 抄録ライセンスフラグ: 使用不可