X線共鳴発光分光法による高圧下での4f電子系化合物の物性研究

• 山岡 人志

• Ignace Jarrige

書誌事項

タイトル別名

• Xセン キョウメイ ハッコウ ブンコウホウ ニ ヨル コウアツカ デ ノ 4f デンシケイ カゴウブツ ノ ブッセイ ケンキュウ
• Pressure dependence of the electronic structure of 4f electron materials as disclosed by resonant x-ray emission spectroscopy

収録刊行物

• 放射光 : 日本放射光学会誌 = Journal of the Japanese Society for Synchrotron Radiation Research / 日本放射光学会 編

  放射光 : 日本放射光学会誌 = Journal of the Japanese Society for Synchrotron Radiation Research / 日本放射光学会 編 24 (2), 53-64, 2011-03

  大阪 : 日本放射光学会

詳細情報

• CRID: 1520290884408270464
• NII論文ID: 10028149547
• NII書誌ID: AN10075706
• ISSN: 09149287
• NDL書誌ID: 11089162
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I11089162
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZM35(科学技術--物理学)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles
  • KAKEN