コヒーレントX線イメージング  [in Japanese] Coherent X-rays for novel nano-imaging  [in Japanese]

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Author(s)

    • 西野 吉則
    • 北海道大学 電子科学研究所 Research Institute for Electronic Science, Hokkaido University

Journal

  • 計測と制御 = Journal of the Society of Instrument and Control Engineers

    計測と制御 = Journal of the Society of Instrument and Control Engineers 50(5), 314-319, 2011-05-10

    計測自動制御学会

References:  18

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    10028213403
  • NII NACSIS-CAT ID (NCID)
    AN00072406
  • Text Lang
    JPN
  • Article Type
    REV
  • ISSN
    04534662
  • NDL Article ID
    11135140
  • NDL Source Classification
    ZM11(科学技術--科学技術一般--制御工学) // ZM15(科学技術--科学技術一般--測定・測定器)
  • NDL Call No.
    Z14-106
  • Data Source
    CJP  NDL 
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