Uncertainty analysis of point-by-point sampling complex surfaces using touch probe CMMs DOE for complex surfaces verification with CMM

この論文をさがす

収録刊行物

参考文献 (15)*注記

もっと見る

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1573105974868348672
  • NII論文ID
    10029042175
  • NII書誌ID
    AA11537543
  • ISSN
    01416359
  • 本文言語コード
    en
  • データソース種別
    • CiNii Articles

問題の指摘

ページトップへ