ＴｏＦ－ＳＩＭＳ（飛行時間型二次イオン質量分析）による木材化学研究

• 福島 和彦

  名古屋大学大学院生命農学研究科

• 斉藤 香織

  名古屋大学大学院生命農学研究科

書誌事項

タイトル別名

• The Chemical Analysis of Wood Using ToF-SIMS
• ToF SIMS ヒコウ ジカンガタ 2ジ イオン シツリョウ ブンセキ ニ ヨル モクザイ カガク ケンキュウ

抄録

飛行時間型二次イオン質量分析（ToF-SIMS）による木材分析について概説する。ToF-SIMSは，木材切片や紙などの試料表面を，前処理することなく直接測定することが可能である。ToF-SIMSの最大の利点は，イメージ像を得ることにより，試料表面の化学物質分布を可視化できることである。これまでに，リグニン構造解析やパルプ・紙表面の化学特性，また，心材抽出成分分布の分析などに適用されている。ここでは，ToF-SIMSの木材研究への適用例に加え，ToF-SIMSの生体試料分析の最前線，ToF-SIMS分析の将来展望について考察する。

収録刊行物

• 木材学会誌

  木材学会誌 53 (6), 291-297, 2007

  一般社団法人 日本木材学会

キーワード

• ToF-SIMS
• lignin
• extractives
• surface analysis
• cell wall

詳細情報

• CRID: 1390282681328438272
• NII論文ID: 10029786447
• NII書誌ID: AN00240329
• DOI: 10.2488/jwrs.53.291
• ISSN: 18807577
• ISSN: 00214795
• NDL書誌ID: 9281282
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I9281282
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • NDL
  • Crossref
  • CiNii Articles
  • KAKEN
• 抄録ライセンスフラグ: 使用不可