ToF-SIMS(飛行時間型二次イオン質量分析)による木材化学研究  [in Japanese] The Chemical Analysis of Wood Using ToF-SIMS  [in Japanese]

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Abstract

飛行時間型二次イオン質量分析(ToF-SIMS)による木材分析について概説する。ToF-SIMSは,木材切片や紙などの試料表面を,前処理することなく直接測定することが可能である。ToF-SIMSの最大の利点は,イメージ像を得ることにより,試料表面の化学物質分布を可視化できることである。これまでに,リグニン構造解析やパルプ・紙表面の化学特性,また,心材抽出成分分布の分析などに適用されている。ここでは,ToF-SIMSの木材研究への適用例に加え,ToF-SIMSの生体試料分析の最前線,ToF-SIMS分析の将来展望について考察する。

Time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS) is a powerful technique that provides chemical information about the surface of a solid sample and does not need any pretreatments. The significant advantage of ToF-SIMS over other techniques is imaging analysis, which allows the direct visualization of the chemical distribution on the sample surface with submicrometer spatial resolution. Here the applications of ToF-SIMS to wood science are discussed. Recent studies showed that ToF-SIMS is a useful tool for the structural analysis of lignin by detecting the monomeric ions which correspond to its structural units (guaiacyl and syringyl types). Several ToF-SIMS studies that examined pulp fiber surfaces or properties of paper have been reported. ToF-SIMS has also been used to investigate the distribution of heartwood extractives.

Journal

  • Mokuzai Gakkaishi

    Mokuzai Gakkaishi 53(6), 291-297, 2007-11-25

    The Japan Wood Research Society

References:  34

Cited by:  3

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    10029786447
  • NII NACSIS-CAT ID (NCID)
    AN00240329
  • Text Lang
    JPN
  • Article Type
    Journal Article
  • ISSN
    00214795
  • NDL Article ID
    9281282
  • NDL Source Classification
    ZP21(科学技術--化学・化学工業--木材)
  • NDL Call No.
    Z17-484
  • Data Source
    CJP  CJPref  NDL  J-STAGE 
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