作物ストレス研究における電子顕微鏡技術の応用と展開 Application and Development of Electron Microscopy for the Study of Stress Effects in Crop Plants

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著者

    • 三宅 博 MIYAKE Hiroshi
    • 名古屋大学大学院生命農学研究科 Graduate School of Bioagricultural Sciences, Nagoya University

収録刊行物

  • 日本作物學會紀事

    日本作物學會紀事 78, 428-433, 2009-03-27

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10030133361
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00189888
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    SHO
  • ISSN
    00111848
  • データ提供元
    CJP書誌 
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