光コムを利用したサブナノメートル測長技術の開発 Sub-Nanometer Length Measurement System Using a fs-comb

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著者

抄録

A length measurement system with sub-nanometer accuracy was developed. The system used the optical

収録刊行物

  • レーザー研究

    レーザー研究 39(11), 842-846, 2011-11-15

    一般社団法人 レーザー学会

参考文献:  15件中 1-15件 を表示

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10030151735
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00255326
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    03870200
  • NDL 記事登録ID
    023338801
  • NDL 請求記号
    Z16-1040
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL  J-STAGE 
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